LCR測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱: LCR測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: 安捷倫
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供**、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合*通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
LCR測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
Agilent 4284A|LCR測(cè)試儀|數(shù)字電橋 20Hz至1MHz
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曹R 13580800393
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地址：東莞市塘廈鎮(zhèn)塘龍東路63號(hào)
24小時(shí)免費(fèi)專線:400 0769 832
品牌: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
·20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
·0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率
·恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
·20Vrms電平選件（選件001）
·用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
·具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供**、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合*通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
技術(shù)指標(biāo)
被測(cè)參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端 四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m
積分時(shí)間： 短、中等和長(zhǎng)
取平均： 1-256可程控
測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無關(guān)
測(cè)試信號(hào)：
電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA
選件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA
直流偏置： 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V
選件：0V-±40V
測(cè)量顯示范圍
參數(shù) 范圍
|Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B 0.01nS-99.9999S
C HP
4284A:0.01fF-9.9999F
L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D 0.000001-9.99999
Q 0.01-99999.9
θ -180.000°~180.000°
Δ% -999.999%~999.999%
基本測(cè)量精度
|Z|,C,L D
0.05% 0.0005
補(bǔ)充特性：
測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短 40ms
中等 190ms
長(zhǎng) 830ms
選件001直流偏流輸出 100mA
max
顯示器：
LCD點(diǎn)陣顯示： 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示
修正功能 開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
接負(fù)載： 利用已校器件作為參考來改善測(cè)量精度
列表掃描功能 *多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試
比較器
10倉(cāng)室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)
倉(cāng)室計(jì)數(shù)： 0-999999
列表掃描比較器： 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)
其它功能：
存儲(chǔ)/加載：
10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載
HP-IB 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果
存儲(chǔ)器： 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)*多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式
一般技術(shù)指標(biāo)
